<section>
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT710HR c полевой эмиссией Шоттки
Новый сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT710HR оснащен всеми самыми новейшими технологиями для обеспечения наилучшего разрешения в кратчайшее время за счет высокой автоматизации процессов, к примеру, по борьбе с астигматизмом и корректировки фокуса, благодаря функциональности "Simple SEM/EDS". Увеличена стабильность электронной пушки с полевой эмиссией Шоттки. Возможность установки двух детекторов для вторичных электронов в высоком и низком вакууме.
Возможность кристаллографического анализа возможно благодаря специально разработанного, опционального EBSD-детектора.
Дополнительно оснащение низким вакуумом позволит проводить исследование непроводящих образцов из керамики, а также перовскитов, биологических материалов, ABS-смола и т.д.
Особенности:
- EBSD-анализ*
- EDS-анализ*
- Автоматизация настроек и анализа благодаря функционалу "Simple SEM/EDS"
- Zeromag - функция для связи между оптической и сканирующей системами отображения изображения.
- Возможность одновременного отображения SEM и оптического изображений
- Новая электронная пушка для высокого разрешения
- Возможность низкого вакуума*
- 3D изображения и анализ в режиме реального времени благодаря внекамерному четырех-сегментному детектору
- Новый гибридный детектор низкого вакуума для вторичных электронов*
* Опция
</section>
