+7 (705) 183-05-67
info@orionica.com
Связаться
ОборудованиеМедиаО компанииКонтактыПремия
+7 (705) 771-26-42
info@orionica.com

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Что-то пошло не так

Нажимая кнопку «Отправить», вы соглашаетесь
с политикой конфиденциальности

Спасибо! Мы скоро с Вами свяжемся
Вернуться к форме
No items found.
No items found.
Электронная микроскопия
Сканирующие ( растровые ) электронные микроскопы

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT210

Новая модель со встроенной EDS системой для проведения быстрого элементного анализа. Jeol JSM-IT210 разработан с нацеливанием на автоматизацию процессов наблюдения, исследования и анализа благодаря новой функциональности "Simple SEM".

Область применения:
Биология・Ботаника・Материаловедение・Микроструктурные исследования・Фармакология・Элементный анализа
Вариант оборудования:
Var
Запросить цену
  • Заголовок

<section>

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT210

Новый сканирующий электронный микроскоп со встроенным EDS-детектором, способным проводить быстрый элементный анализ и картирование. Устройство использует новейшую функциональность "Simple SEM", разработанная для достижения автоматизации процессов наблюдения, исследования и анализа выбранной области.

</section>

Дополнительные материалы

No items found.
Сканирующие ( растровые ) электронные микроскопы
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT210
Запросить цену

Похожие товары

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT710HR c полевой эмиссией Шоттки

Новый сканирующий электронный микроскоп четвертого поколения JSM-IT710HR серии "HR". Серия разработана для минимизации манипуляции электронно-оптических параметров оператором в целях достижения наибольшего разрешения за счет высокой автомизации процессов настройки и улучшенной производительности благодаря новому детектору.

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT210

Новая модель со встроенной EDS системой для проведения быстрого элементного анализа. Jeol JSM-IT210 разработан с нацеливанием на автоматизацию процессов наблюдения, исследования и анализа благодаря новой функциональности "Simple SEM".

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT800 с полевой эмиссией Шоттки

Jeol JSM-IT800 обеспечит высокое разрешение и быстрое картирование элементов благодаря электронной пушки Шоттки Плюс. Система имеет функцию Neo Engine для контроля электронно-оптической системы, а также функцию SEM Сenter для ускоренного картирования элементов. Система допускает смену объективных лиз для удовлетворения различных задач. JSM-IT800 доступен в 5 вариациях.

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT700HR InTouchScope

JSM-IT700HR изготовлен для получения высокого разрешения до 1 нм. При наличии дополнительных систем способен к проведению энергодисперсионной (EDS), волнодисперсионной (WDS) спектроскопий, а также к анализу дифракции обратнорассеянными электронами (EBSD). Поддержка низкого вакуума обеспечит надежное исследование нетокопроводящих образцов.

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT510 InTouchScope

Модель разработана не только для решения исследовательских задач, а также для производства и контроля качества. Помимо возможности оснащением EDS, можно также установить WDS и EBSD системы. Новая функция Simple SEM сделает процесс по настройке устрайтва перед работой как можно более автоматизированным.

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT200 InTouchScope

Бюджетный вариант из серии InTouchScope заключащий в себе все самое необходимое для рутиных исследований. Может быть дополнительно оснащен энергодисперсионной системой для проведения элементного анализа и картирования при низком вакууме.

Настольный сканирующий микроскоп Jeol JCM-7000 NeoScope

Компактный, настольный, сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-7000 NeoScope обеспечит быстрый процесс исследования и анализа микроструктуры, а также контроля качества. Поддерживает низкий вакуум.