<section>
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT510 InTouchScope
Улучшенная модель в своей серии, разработанная для увеличения автоматизации процесса настройки устройства перед работой, что делает ее проще. Для проведение анализа элементного состава и его картирования могут быть установлены энергодисперсионный спектрометр (EDS), а также волнодисперсионный спектрометр (WDS) для более высокого разрешения и обеспечениее еще более высокой точности распознавания элементов. Анализ обратнорассеянными электронами (EBSD) также возможен при установке дополнительной системы с камерой.
Особенности:
- Большая автономность процесса настройки
- Энергодисперсионный анализ (EDS)*
- Волнодисперсионный анализ (WDS)*
- Анализ обратнорассеяннными электронами (EBSD)*
- Низкий вакуум
- Монтаж снимка
- Функция Simple SEM для автоматизированной настройки
- Функция Zeromag для облегченной навигации с переходом от оптического изображения к сканирующему
- Функция Live 3D для получения и анализа 3D снимков
Характеристики:
- Разрешение (высокий вакуум): до 3 нм
- Разрешение (низкий вакуум): до 4 нм
- Ускоряющее напряжение: от 0.3 кВ до 30 кВ
- Увеличение: от ×5 до ×300 000
- Режимы наблюдения: вторичные электроны, обратнорассеянные электроны
- Катод: вольфрамовый
- Низкий вакуум: есть
- Предметный столик: X：125 мм Y：100 мм Z：80 мм
- Максимальный диаметра образца: до 200 мм
- Максимальная высота образца: до 75 мм (стандарт), до 90 мм (со спец. держателем)*
* Опция
</section>
