+7 (705) 183-05-67
info@orionica.com
Связаться
ОборудованиеМедиаО компанииКонтактыПремия
+7 (705) 183-05-67
info@orionica.com

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Что-то пошло не так

Нажимая кнопку «Отправить», вы соглашаетесь
с политикой конфиденциальности

Спасибо! Мы скоро с Вами свяжемся
Вернуться к форме
No items found.
No items found.
Пробоподготовка
Электронная пробоподготовка

Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4

Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4

Область применения:
Электролитическое полирование・Травление・EBSD анализ
Вариант оборудования:
Var
Запросить цену
  • Заголовок

<section>

Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4

</section>

Дополнительные материалы

No items found.
Электронная пробоподготовка
Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4
Запросить цену

Похожие товары

Установка для электролитического полирования и травления Buehler PoliMat 2

Установка для электролитического полирования и травления Buehler PoliMat 2

Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4

Установка электролитического полирования и травления Buehler ElectroMet 4

Ультрамикротом Leica Enuity

Leica Enuity представляет собой революционный шаг вперед в области ультрамикротомии. По сравнению с предыдущей моделью Leica UC7, Enuity предлагает улучшенную эргономику, значительно увеличилась ширина реза образцов, переработана и усовершенствована сенсорная панель управления.

Универсальная система механической подготовки образцов Leica EM TXP

Исследования методами световой и электронной микроскопии требуют качественной подготовки образца. Leica EM TXP позволяет выполнить все этапы механической пробоподготовки на едином инструменте, обеспечивая прецизионную подготовку образцов для широкого спектра задач.

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X обеспечивает прецизионную подготовку поверхности широкого класса материалов. Позволяет получать поперечные и плоские срезы образцов для проведения исследований методами электронной и атомно-силовой микроскопии, рентгеновской спектроскопии и др.

Устройство напыления образцов Leica EM ACE900

Leica ACE900 - уникальная высоковакуумная криогенная система напыления, скалывания и сублимационного травления образцов

Устройство напыления образцов Leica EM ACE600

Leica ACE600 - полностью автоматизированная система напыления проводящих защитных металлических и углеродных покрытий в высоком вакууме для исследований методами электронной микроскопии высокого разрешения и других приложений

Устройство напыления образцов Leica EM ACE200

Автоматизированная система напыления Leica ACE200 позволяет наносить проводящие защитные покрытия тонких слоев металла и/или углерода на поверхность образца для дальнейших исследований методами электронной микроскопии и других приложений

Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливки Leica EM AFS2

Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливки Leica EM AFS2 позволяет проводить сублимационное замещение жидкости и последовательное понижения температуры (PLT - Progressive Lowering of Temperature), а также осуществлять низкотемпературную заливку и полимеризацию смол для подготовки образцов к исследованиям методами световой и электронной микроскопии

Ультрамикротом Leica ARTOS 3D

Leica ARTOS 3D — автоматизированный ультрамикротом для приготовления срезов при комнатной температуре и криогенных условиях. Подходит для серийной томографии и получения 3D-реконструкций образцов с помощью световой, корреляционной, а также сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.

Cистема переноса образцов в криогенных и вакуумных условиях Leica EM VCT500

Leica EM VCT500 — вакуумная крио-система переноса образцов с защитой от пыли, загрязнений и факторов внешней среды. Образцы в газе или вакууме перемещаются между установками для пробоподготовки, оптическими и электронными микроскопами. При крио-техниках образец находится при низких температурах.

Автоматическая система заморозки Leica EM ICE

Leica EM ICE — автоматическая система заморозки при высоком давлении. Позволяет проводить крио-иммобилизацию образцов без предварительной фиксации для дальнейшего анализа структуры с высоким разрешением методами оптической и электронной микроскопии.

Система погружной заморозки Leica EM GP2

Leica EM GP2 — автоматизированная система сверх быстрой погружной заморозки для криоэлектронной микроскопии, в результате которой образцы фиксируются в тонком слое аморфного льда и сохраняются в гидратированном состоянии. Используется для пробоподготовки белков, клеток, полимерных и других чувствительных материалов.

Автоматизированный тканевой процессор Leica EM TP

Автоматический гистологический тканевой процессор Leica EM TP предназначен для фиксации и дегидратации образцов для последующих исследований методами электронной (EM) и световой (LM) микроскопии. На процессор может быть установлено оборудование для EM или LM, при этом переключение между режимами занимает всего несколько мгновений, а время ручной обработки образцов сокращается на 75%.

Прибор для изготовления стеклянных ножей Leica EM KMR3

Leica EM KMR3 позволяет получать превосходные стеклянные ножи для приготовления высококачественных тонких срезов различных образцов для изучения методами электронной (SEM, TEM) и световой (LM) микроскопии. Ножи доступны в трех размерах: 6.4 мм, 8 мм или 10 мм. Максимальная эргономичность и простота эксплуатации, наряду с тончайшей балансировкой механических компонентов прибора и применением нового нажимного механизма обеспечивают высокую воспроизводимость результатов.