<section>
Просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-2200FS с полевой эмиссией
Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией обеспечит оптимальный баланс между максимально возможным разрешением, контрастом и качеством получаемого изображения. Микроскоп оснащен специальным Омега-фильтром для устранения негативного влияния неупругого электронного взаимодействия, что позволяет улучшить контраст с одновременной минимизацией шума. Посредством дополнительного оснащения EDS системой возможен анализ элементного состава. JEM-2200FS позволяет осуществить качественный анализ кристаллической структуры при помощи дифракции нанопучка (NBD). Также поддерживается режим сходящегося пучка электронов (CBD).
Особенности:
- Полевая эмиссия
- Омега фильтр для улучшения контраста и снижения шума
- Дополнительное оснащение EDS системой
- Дополнительное оснащение камерами с зарядовой связью
- Возможность дифракции нанопучка (NBD) для качественного анализа кристаллической структуры
- Оптимальный баланс между контрастом и разрешением
- Большой уровень контроля основной и дополнительной системами при помощи ПК
- Новый гониометрический столик с пьезоэлектрическим устройством для поиска требуемой области исследования на атомарном уровне
Характеристики:
- Ускоряющее напряжение: 160, 220 кВ*
- Увеличение: от 1500x до 1 200 000x**
- Минимальный шаг: 50 В
- Электронная пушка: Шоттки
- Угол наклона: ±10°
* Также возможны 80, 100 и 120 кВ при наличии переключателей для колонны
** В зависимости от режима
</section>
