<section>
Инспекционный микроскоп для микроэлектроники Leica DM8000
Исследовательская система на базе инспекционного микроскопа Leica DM8000 разработана для глубокого анализа в области микроэлектроники и металлографии.
</section>
No items found.
No items found.
Инспекционный микроскоп для микроэлектроники Leica DM8000
Инспекционный микроскоп Leica DM8000 позволит провести тщательный анализ и добиться глубокого понимания микроэлектроники, а также провести металлографичекий анализ, оценить детали и компоненты на наличие дефектов. Исследуйте полупроводники и компоненты микроэлеллектроники, платы, резисторы, а также крупные детали с высокой точностью.
Область применения:
Микроэлектроника・Полупроводники・Металлография
- Заголовок
Дополнительные материалы
No items found.
Микроскопы для микроэлектроники
Инспекционный микроскоп для микроэлектроники Leica DM8000